展示会情報

私たちの製品・技術をご紹介する展示会情報を掲載しています。
ぜひ展示会場へお越しください。

展示会情報

情報セキュリティEXPO秋 出展のお知らせ

2017年11月8日(水)から10日(金)に千葉・幕張で開催されます第7回 情報セキュリティEXPO秋に出展いたします。
今展示会では、高精度・高機能・時間同期データ記録が可能なDewetron(デュートロン)製多CH同期データロガーをご紹介致します。 コンパクトながら高いサンプリングレートを実現し、独自の高精度・時間同期技術「SYNC-CLOCK」にて、あらゆるデータを時間情報と共に記録し、測定後のデータ表示・分析を正確に行えます。ぜひ一度、弊社のブースへお越しください。

主な展示内容

・分離型多CH同期コンパクトデータロガー
・虹彩認証モジュール(Iritech社製品) ほか

出展概要

会期 2017年11月8日(水)~10日(金)
会場 幕張メッセ
展示ブース 14-51
公式サイト http://www.ist-expo.jp/aki/

JPCA Show 2017 出展のお知らせ

2017年6月7日(水)から9日(金)に東京・江東区で開催されますJPCA Show 2017に出展いたします。
本年のJPCA Showではスマートフォン、タブレット、MSAP工法向け電気検査装置STAR REC M6Ⅱ、高速・高精度化したFPC(フレキシブル基板)検査装置NRFEIS-3045Xの実機デモをはじめ、高速微細容量測定R-730テスター等、幅広い展示ラインナップを用意し、電気検査、光学検査を中心に、検査・計測に関するソリューションをご提案致します。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・MSAP工法向けの電気検査装置「STAR REC M6Ⅱ」(実機デモ)
・FPC向け検査装置 「NRFEIS-3045X」 (実機デモ)
・高速C容量テスター 「R-730」(実機デモ)
・MSAP工法向けピーリング/デタッチ自動化装置「NRDF/NRCL/NRCRシリーズ」
・光学式外観検査装置 「RSH、RWiシリーズ」
・SiP向け検査装置 「GATS-7755」
・コンパクト、高速検査装置 「GATS-6310」
・高精度治具 「Φ25μm治具」 他多数

出展概要

会期 2017年6月7日(水)~9日(金)
会場 東京ビッグサイト 東展示棟
展示ブース 7C-14
公式サイト http://www.jpcashow.com/show2017/index.html

人とくるまのテクノロジー展2017 出展のお知らせ

2017年5月24日(水)から26日(金)に横浜で開催されます自動車技術展 人とくるまのテクノロジー展 2017に出展いたします。
今展示会では、DEWETRON社製の「車載用データロガー」を中心に製品展示致します。オールインワン型車載向けモデルや分離型多Ch.同期モデルを中心に、お客様へご紹介致します。期間中は、実機の展示もございます。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・DEWETRON社製データロガー
 -DEWE2 A4
 -TRIONet
 -各種センサー ほか

出展概要

会期 2017年5月24日(水)~26日(金)
会場 パシフィコ横浜
展示ブース No.63
公式サイト http://expo.jsae.or.jp/

KPCA Show 2017 出展のお知らせ

2017年4月25日(火)から27日(木)に韓国・ソウルで開催されます KPCA Showに出展致します。
今回の展示会では、 FPC(フレキシブルプリント基板)検査向け「NRFEIS-3045A, NRFEIS-5060C」の実機デモ展示を行います。同装置に搭載可能な高精度治具展示のほか、高速C容量テスター「R-730」もご紹介。お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案致します。ぜひとも弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・ FPC向け検査装置「NRFEIS-3045X」、「NRFEIS-5060C」
・ 高精度治具
・ 高速C容量テスター「R-730」 ほか

出展概要

会期 2017年4月25日(火)~27日(木)
会場 KINTEX(京畿道)
展示ブース F-G 301
公式サイト http://www.kpcashow.com/jpn/content/overview.asp

Semicon Southeast Asia 2017 出展のお知らせ

2017年4月25日(火)から27日(木)にマレーシア・ペナンで開催されます Semicon Southeast Asia 2017に出展致します。
本展示会では、世界最小径で超微細な検査ピッチにも対応する「MEMSスプリングプローブ」や、高速・高精度の「半導体ウェハバンプ光学検査装置」など、最先端の検査ソリューションをご提案します。ぜひブースへお越しください。

主な展示内容

・光学式検査装置「RWi-300」シリーズ
・プローブカード用MEMSスプリングプローブ
・ルスコム社製マイクロチューブ ほか

出展概要

会期 2017年4月25日(火)~27日(木)
会場 SPICE Arena
展示ブース #905
公式サイト http://www.semiconsea.org/

第27回 ファインテックジャパン 出展のお知らせ

2017年4月5日(水)から7日(金)に東京・江東区で開催されます第27回 ファインテックジャパンに出展致します。
今回の展示会では、 多面付けFPC(フレキシブルプリント基板)検査装置「NRFEIS-3045X」ならびに、タッチパネル向け 高速C容量検査装置「NRFEIS-730」のデモンストレーションを予定しています。このほかにも、お客様のご要望に合わせて検査ソリューションをご提案致します。お気軽に、弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・タッチパネル向け 高速C容量検査装置 NRFEIS-730
・多面付けFPC検査装置 NRFEIS-3045X ほか

出展概要

会期 2017年4月5日(水)~7日(金)
会場 東京ビッグサイト
展示ブース 37-9
公式サイト http://www.ftj.jp/

CPCA Show 2017 出展のお知らせ

2017年3月7日(火)から9日(木)に中国・上海市で開催されますCPCA Show 2017に出展致します。
今回の展示会では、タッチパネル向け検査装置や、エンベデッド基板検査対応の高速テスターをご紹介予定です。合わせて、高精度治具及び、60μmピッチ対応の世界最小径MEMSスプリングプローブの展示も予定しております。
お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案させていただきます。期間中は、ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・タッチパネル向け検査装置 NRFEIS-730
・エンベデッド基板検査対応 高速テスター R-5910i
・MEMSスプリングプローブ
・高精度治具 ほか

出展概要

会期 2017年3月7日(火)~9日(木)
会場 中国上海国家展会中心
展示ブース 7K99
公式サイト http://www.ying-zhan.com/index.asp

関西情報セキュリティEXPO 出展のお知らせ

2017年2月15日(水)から17日(金)大阪で開催されます第1回 関西情報セキュリティEXPOに出展いたします。
今展示会では、生体認証・アクセスコントロールシステム用モジュールをキーワードに、製品をご紹介致します。
手ぶらで施錠・解錠が可能な住宅用虹彩認証モジュールや、製造装置等のユーザーアクセス管理用の虹彩認証モジュールなど、用途に合わせた製品をご紹介致します。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・住宅向け 虹彩認証モジュール
・ユーザーアクセス管理用 虹彩認証モジュール
・機密物保管機器用 虹彩認証モジュール
・入国審査用 虹彩認証モジュール(Iritech社製品) ほか

出展概要

会期 2017年2月15日(水)~17日(金)
会場 インテックス大阪
展示ブース 7-3
公式サイト http://www.ist-expo.jp/

第9回 国際カーエレクトロニクス技術展 出展のお知らせ

2017年1月18日(水)から20日(金)に東京・江東区で開催されます第9回 国際カーエレクトロニクス技術展に出展致します。
今年の展示会では、DEWETRON社製「DEWE2-A4」、「TRIONet」をはじめとする、自動車向け計測・検査ソリューションをご提案するほか、カメラモジュール向け 「Embedded Package」などの新開発品についてもご紹介致します。
会期中は、データロガーの実機展示も行う予定です。検査や計測でお困りの際には、ぜひ弊社ブースにてご相談ください。

主な展示内容

・DEWETRON社製 各種計測器 「DEWE2-A4」、「TRIONet」
・カメラモジュール向け 「Embedded Package」
・自動車向け 各種計測器・検査装置
 その他、グループ会社ならびにパートナー企業製品 など

出展概要

会期 2017年1月18日(水)~20日(金)
会場 東京ビッグサイト 東ホール
展示ブース E42-28
公式サイト http://www.car-ele.jp/

SEMICON JAPAN 2016 出展のお知らせ

2016年12月14日(水)から16日(金)東京・江東区で開催されますSEMICON JAPAN 2016に出展いたします。
今展示会では、半導体製造に関連する当社の総合ソリューションをご提案致します。
新開発の耐熱用ならびに、半導体パッケージ向け高周波対応の「MEMSスプリングプローブ」をはじめ、半導体ウェハ / プリント基板向けの「光学検査装置」など、最先端の検査ソリューションをご紹介します。ぜひ一度、弊社のブースへお越しください。

主な展示内容

・光学式検査装置 RWiシリーズ / RSHシリーズ
・MEMSスプリングプローブ 耐熱用 /半導体パッケージ検査用
・マイクロチューブ ほか

出展概要

会期 2016年12月14日(水)~16日(金)
会場 東京ビッグサイト
展示ブース 1429
公式サイト http://www.semiconjapan.org/

C-Touch & Display Shenzhen 2016 出展のお知らせ

2016年11月24日(木)から26日(土)中国・深センで開催されますC-Touch & Display Shenzhen 2016に出展いたします。今展示会では、新開発のタッチパネル向け検査装置「NRFEIS-730」をご紹介予定です。
ドライバーIC実装前の状態で、高速C容量(Capacitance) 検査が可能です。電気的導通(OPEN)、短絡(LEAK)検査も可能で、高スループット、高い信頼性、高メンテナンス性を実現しています。
その他にも、お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案します。ぜひ一度、弊社のブースへお越しください。

主な展示内容

・タッチパネル検査装置「NRFEIS-730」(実機デモ) ほか

出展概要

会期 2016年11月24日(木)~26日(土)
会場 Shenzhen Convention & Exhibition Center
展示ブース 1C-229
公式サイト http://sz.quanchu.com.cn/riwen/index.htm

TPCA Show 2016 出展のお知らせ

2016年10月26日(水)から28日(金)に台湾・台北で開催されますTPCA Show 2016に出展いたします。
今展示会では、 2次元/3次元基板検査装置 「RSH-M120C」の実機デモを始め、エンベデッド基板検査対応の高速テスター「R-5910i」、MSAP工法向けピーリング・デタッチ自動化装置等、幅広い展示ラインナップを準備いたします。電気検査、光学検査を中心に検査・計測に関するソリューションをご要望に合わせて提供いたします。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・2次元/3次元基板検査装置 「RSH-M120C」 (実機デモ)
・FPC向け検査装置 「NRFEIS-3045/5060」
・半導体パッケージ検査装置 「GATS-7755/7756」「GATS-7540/GATS-8600」
・プリント基板検査装置 「STAR REC M6ⅡSW 32K」
・エンベデッド基板テスター 「R-5910i」(実機デモ)
・高精度治具 「Φ15μm治具」「MEMSスプリングプローブ」
・MSAP工法向けピーリング/デタッチ自動化装置「NRDF/NRCL/NRCRシリーズ」

出展概要

会期 2016年10月26日(水)~28日(金)
会場 台北南港展覽館
展示ブース I1114
公式サイト http://www.tpcashow.com/en/

情報セキュリティEXPO秋 出展のお知らせ

2016年10月26日(水)から28日(金)千葉・幕張で開催されます第6回 情報セキュリティEXPO秋に出展いたします。
今展示会では、生体認証・アクセスコントロールシステム用モジュールをキーワードに、製品をご紹介致します。
手ぶらで施錠・解錠が可能な住宅用虹彩認証モジュールや、製造装置等のユーザーアクセス管理用の虹彩認証モジュールなど、用途に合わせた製品をご紹介致します。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・住宅向け 虹彩認証モジュール
・ユーザーアクセス管理用 虹彩認証モジュール
・入国審査用 虹彩認証モジュール(Iritech社製品) ほか

出展概要

会期 2016年10月26日(水)~28日(金)
会場 幕張メッセ
展示ブース 11-36
公式サイト http://www.ist-expo.jp/

JPCA Show 2016 出展のお知らせ

2016年6月1日(水)から3日(金)に東京・江東区で開催されますJPCA Show 2016に出展いたします。
今展示会では、高速・高精度化したFPC(フレキシブル基板)検査装置 「NRFEIS-3045X」の実機デモを始め、新開発の高速C容量テスターや、MSAP工法向けピーリング・デタッチ自動化装置等、幅広い展示ラインナップを準備いたします。電気検査、光学検査を中心に検査・計測に関するソリューションをご要望に合わせて提供いたします。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・FPC向け検査装置 「NRFEIS-3045X」(実機デモ)
・高速C容量テスター 「R-730」(実機デモ)
・MSAP工法向けピーリング/デタッチ自動化装置「NRDF/NRCL/NRCRシリーズ」
・光学式外観検査装置 「RSH-S230T」、「RWi-300」
・SiP向け検査装置 「GATS-7755/R-5910is」
・プリント基板検査装置 「STAR REC M6ⅡWide/SW」
・高精度治具 「Φ25μm治具」
・車載向けデータロガー 「Trend Coder」

出展概要

会期 2016年6月1日(水)~3日(金)
会場 東京ビッグサイト 東展示棟
展示ブース 5D-16
公式サイト http://www.jpcashow.com/show2016/index.html

人とくるまのテクノロジー展2016 出展のお知らせ

2016年5月26日(水)から28日(金)に横浜で開催されます自動車技術展 人とくるまのテクノロジー展2016に出展いたします。
今展示会では、DEWETRON社製の「車載用データロガー」を中心に製品展示いたします。豊富な採用実績をもつオールインワンタイプの製品、マルチタッチ機能型タッチパネル搭載の製品や、より高速かつコンパクトな新型ロガーTRIONetもご紹介予定です。 期間中は、実機の展示もございます。ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・DEWETRON社製データロガー
  - DEWE2 A4
 - TRENDCORDER
 - TRIONet(新製品)
 - CVT Logger ほか

出展概要

会期 2016年5月26日(水)~28日(金)
会場 パシフィコ横浜
展示ブース No.59
公式サイト http://expo.jsae.or.jp/

Semicon Southeast Asia 2016 出展のお知らせ

2016年4月26日(火)から28日(木)にマレーシア・ペナンで開催されますSemicon Southeast Asia 2016に出展致します。
本展示会では、60μmピッチ対応の世界最小径「MEMSスプリングプローブ/製造装置」、「半導体ウェハバンプ光学検査装置」を中心に、最先端の検査ソリューションをご提案します。ぜひブースへお越しください。

主な展示内容

・光学式検査装置 RWi-300シリーズ
・プローブカード用MEMSスプリングプローブ/製造装置 ほか

出展概要

会期 2016年4月26日(火)~28日(木)
会場 SPICE Arena
展示ブース B122
公式サイト http://www.semiconsea.org/

KPCA Show 2016 出展のお知らせ

2016年4月26日(火)から28日(木)に韓国・ソウルで開催されます KPCA Showに出展致します。
今回の展示会では、 FPC(フレキシブルプリント基板)検査向け「NRFEIS-3045A」の実機デモ展示を行います。同装置に搭載可能な高精度治具の展示のほか、高速C容量テスター「R-730」もご紹介。お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案致します。ぜひとも弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・ FPC向け検査装置 NRFEIS-3045A
・ 高精度治具
・ 高速C容量テスター R-730 ほか

出展概要

会期 2016年4月26日(火)~28日(木)
会場 KINTEX(京畿道)
展示ブース E~F 115
公式サイト http://www.kpcashow.com/jpn/content/overview.asp

第26回 ファインテックジャパン(国際タッチパネル技術展)出展のお知らせ

2016年4月6日(水)から8日(金)に東京・江東区で開催されます第26回 ファインテックジャパン(国際タッチパネル技術展)に出展致します。今年の展示会では、FPC(フレキシブルプリント基板)検査向け「新型NRFEISシリーズ」をはじめ、HDI基板製造MSAP工法向け「ピーリング/デタッチ自動化装置」や、高精度テスター「R-730」など、新製品を多数ご紹介いたします。
タッチパネルやFPC向け検査ソリューションについては、ぜひとも弊社へお問い合わせください。

主な展示内容

・ FPC向け検査装置 新型NRFEISシリーズ
・ HDI基板製造MSAP工法向けピーリング/デタッチ自動化装置
・ 高速/高精度テスター  ほか

出展概要

会期 2016年4月6日(水)~8日(金)
会場 東京ビッグサイト 東ホール
展示ブース E48-30
公式サイト http://www.tpjapan.jp/

CPCA Show 2016 出展のお知らせ

2016年3月15日(火)から17日(木)に中国・上海市で開催されますCPCA Show 2016に出展致します。
本展示会では、高速高精度 HDI基板検査装置の実機デモを始め、フレキシブル基板向け検査装置や、新登場のピーリング・デタッチ自動化装置をご紹介予定です。併せて、高精度治具の展示も予定しております。
お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案させていただきます。期間中は、ぜひ弊社ブースへお越しください。

主な展示内容

・プリント基板検査装置 STAR REC M6シリーズ
・フレキシブル基板検査装置 NRFEIS シリーズ
・HDI基板製造MSAP工法向け ピーリング/デタッチ自動化装置
・高精度治具 ほか

出展概要

会期 2016年3月15日(火)~17日(木)
会場 中国上海新国際博覧中心
展示ブース 6D68
公式サイト http://www.cpcashow.com/en/index.asp

第8回 国際カーエレクトロニクス技術展 出展のお知らせ

2016年1月13日(水)から15日(金)に東京・江東区で開催されます「第8回 国際カーエレクトロニクス技術展」に出展致します。
今年の展示会では、 DEWETRON社製「TRENDCODER」や「CVTロガー」、「TRL非接触ワイヤーハーネステスター」を中心に、自動車向け検査ソリューションをご紹介するほか、新開発の商品「虹彩認証モジュール」やその他製品についてもご紹介致します。
会期中は、実機展示によるデモンストレーションも行う予定です。検査や計測でお困りの際には、ぜひ弊社ブースにてご相談ください。

主な展示内容

・DEWETRON社製各種計測器「DEWE2A4」、「TRENDCODER」、「CVT ロガー」
・ワイヤーハーネス向け「TRL非接触テスター」
・車載向け「虹彩認証モジュール」
・その他、グループ会社ならびにパートナー企業製品多数

出展概要

会期 2016年1月13日(水)~15日(金)
会場 東京ビッグサイト 西ホール
展示ブース W1-35
公式サイト http://www.car-ele.jp/

Semicon Japan 2015 出展のお知らせ

2015年12月16日(水)から18日(金)に東京・江東区で開催されます Semicon Japan 2015に出展致します。
今年の展示会では、60μmピッチ対応の世界最小径「MEMSスプリングプローブ/製造装置」、「半導体ウェハバンプ光学検査装置」を中心に、最先端の検査ソリューションをご提案します。また、本展示会の展示テーマの一つである「IoT」対応の新製品もご紹介予定です。お客様のご要望に合わせて、最適な検査ソリューションをご提案致します。ぜひブースへお越しください。

主な展示内容

・光学式検査装置 「RWi-300シリーズ」
・プローブカード用 「MEMSスプリングプローブ/製造装置」 
・IoT化対応ソリューション「IDEAS」ほか

出展概要

会期 2015年12月16日(水)~18日(金)
会場 東京ビッグサイト
展示ブース 1708
公式サイト http://www.semiconjapan.org/ja/

TPCA Show 2015 出展のお知らせ

2015年10月21日(水)から23日(金)に台湾・台北市で開催されますTPCA Show 2015に出展致します。

今展示会では、フレキシブル基板検査装置「NRFEIS-5060」の実機展示をはじめ、新型のファインピッチFC-CSP向け検査装置や光学式検査装置など、お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案致します。高精度テスター「R-5810is」や、IoT化に対応する製品も展示予定ですので、期間中ぜひブースへお越しください。

主な展示内容

・フレキシブル基板向け検査装置 「NRFEIS-5060」

・ファインピッチFC-CSP向け検査装置 「GATS-7755」
・プリント基板向け検査装置 「STAR REC M6ⅡSW」
・光学式検査装置 「RSH-S120/RWi-300」

・高精度テスター 「R-5810is」
・高精度治具 「Φ15μm BBプローブ治具」

・IoT(Internet of Things)化対応ソリューション 「IDEAS」ほか

出展概要

会期 2015年10月21日(水)~23日(金)
会場 台北南港展覽館
展示ブース J329
公式サイト http://www.tpcashow.com/en/

JPCA Show 2015 出展のお知らせ

2015年6月3日(水)~5日(金)、東京ビッグサイトにて開催されます「JPCA Show 2015」に出展致します。本年のJPCA Showでは、半導体パッケージ向け検査装置「GATS-6310」や、フレキシブル基板向け通電検査装置「NRFEIS-3045A」の実機展示をはじめ、光学系検査技術や車載部品向け検査装置など、多岐に渡る検査ソリューションをご提案いたします。 性能がさらに向上したテスターや、高精度治具の製品展示も行いますので、万障お繰り合わせの上、ご来場ください。

主な展示内容

・半導体パッケージ検査装置「GATS-6310」
・プリント基板向け検査装置 「STARREC M6ⅡW/SW」
・高速/高精度テスター 「R-6510is」
・光学式外観検査装置 「RSH-S230T」、「RWi-300」
・高精度検査治具 同軸MEMSプローブ、15 umプローブ治具、ユニバーサル治具
・フレキシブル基板向け検査装置 「NRFEIS-3045A」
・車載向けデータロガー 「Trend Coder」 他

出展概要

会期 2015年6月3日(水)~5日(金)
会場 東京ビッグサイト 東5ホール
展示ブース 5C-04
公式サイト http://www.jpcashow.com/show2015/index.html

人とくるまのテクノロジー展2015 出展のお知らせ

2015年5月20日(水)~22日(金)、パシフィコ横浜にて開催されます自動車技術会主催の自動車技術展「人とくるまのテクノロジー展2015」に出展致します。初めての出展となる本年は、DEWETRON社製の「車載用データロガー」を中心に製品展示致します。豊富な採用実績をもつオールインワンタイプの製品や、マルチタッチ機能型タッチパネル搭載の新製品もご紹介予定です。実機の展示もございますので、万障お繰り合わせの上、ぜひとも弊社のブースへお立ち寄りください。

主な展示内容

・DEWETR0N社製データロガー
  「DEWE2-A4」、「Trend Coder」、「DEWE2-M4」

出展概要

会期 2015年5月20日(水)~22日(金)
会場 パシフィコ横浜
展示ブース No. 34
公式サイト http://expo.jsae.or.jp/

ファインテックジャパン (国際タッチパネル技術展) 出展のお知らせ

2015年4月8日(水)~10日(金)、東京ビッグサイトにて開催されます「第25回 ファインテック ジャパン併設 国際タッチパネル技術展」に出展致します。本年は、新型のタッチパネル検査装置 「NRFEIS-Series」をご紹介するほか、採用実績豊富なタッチパネル検査ソリューションをご提案いたします。実機の展示もございますので、万障お繰り合わせの上、ぜひとも弊社のブースへお立ち寄りください。

主な展示内容

・ タッチパネル検査装置 NRFEIS-3045A  (デモ実施)
・ タッチパネル検査装置 NRTES シリーズ

出展概要

会期 2015年4月8日(水)~10日(金)
会場 東京ビッグサイト
展示ブース 東ホール 49-39
公式サイト http://www.ftj.jp/

CPCA Show 2015 出展のお知らせ

2015年3月17日(火)から19日(木)に開催されますCPCA Show 2014に出展致します。 今展示会では、ファインピッチ&極薄FC-CSP基板検査対応の最新型プリント基板検査装置や、ラインナップ豊富な検査治具をご紹介致します。
実機の展示もございますので、皆様ぜひ一度弊社ブースへお立ち寄りください。

主な展示内容

・プリント基板検査装置 GATS-6310 (デモ実施)
・タッチパネル検査装置 NRFEIS Series
・各種検査治具 (ユニバーサル治具、 COAX治具、 φ15um治具など)

出展概要

会期 2015年3月17日(火)~19日(木)
会場 Shanghai New International Expo Center
展示ブース 7F78
公式サイト http://www.cpcashow.com/en/index.asp

第7回 国際カーエレクトロニクス技術展 出展のお知らせ

2015年1月14日(水)から16日(金)に開催されます第7回 国際カーエレクトロニクス展に出展致します。
ブースでは「TRL非接触ワイヤーハーネステスター」「DEWETRON社製データロガー」を中心に、自動車向け検査ソリューションをご紹介するほか、技術共同開発による最新エンベデッドカメラモジュールやその他製品についてもご用意しております。会期中は、実機の展示にて、デモンストレーションも予定しております。ぜひ弊社のブースへお越し下さい。

主な展示内容

・TRL非接触ワイヤーハーネステスター
・All-in-One ポータブルデータロガー

出展概要

会期 2015年1月14日(水)~16日(金)
会場 東京ビッグサイト
展示ブース 西 4-44
公式サイト http://www.car-ele.jp/