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半導体パッケージ
基板検査装置

MCM、CSP、BGA等の半導体パッケージ基板の導通短絡(OPEN/SHORT)検査を高速高精度で行う検査装置“GATS: Grid Array Testing System”シリーズです。

プリント基板
検査装置

マザーボード等の各種プリント基板の導通短絡(OPEN/SHORT)を検査する装置を豊富にラインナップ。検査ワークの種類やサイズ、検査ピン数に柔軟に対応します。

基板検査テスター

基板検査装置の心臓部であるテスターは、低電圧から高電圧、低抵抗から高抵抗までのワイドレンジな導通短絡検査を実現します。

基板検査治具
検査ソフトウェア

検査対象の導体や電極パッドを高精度でプロービングする検査治具に加え、検査ポイントの抽出や検査ログを解析するソフトウェアを提供しています。

MEMSスプリング
プローブ

超微細3次元加工技術によって実現したMEMSスプリングプローブは、基板検査や半導体検査市場において先進的かつ革新的な検査ソリューションを提供します。

タッチパネル・
FPD検査装置

接触・非接触の多彩な検査技術を駆使して、個片サイズから多面付け大判パネルサイズまでのタッチパネルや液晶等の導通短絡(OPEN/SHORT)検査を提供します。

光学式検査装置

フォトマスクや内層板・外層板で発生する導体パターンの導通短絡、半田バンプ・ビア穴の形状や傷・汚れを光学技術で検査・測定する外観検査装置を多彩にラインナップしています。

車載部品検査装置
特殊検査機器

自動車の電装化に伴い需要が高まっている車載部品のファンクション検査や、導通短絡検査の前後工程や部品実装後の工程で活躍する特殊検査機器は、お客様の生産性向上をサポートします。

車載向け計測器・
データロガー

各種計測データを、高速に記録・分析します。
ADAS(先進運転支援システム)や機能安全テスト(ISO26262)、車体検査など、お客様のご要望に合った製品をご提供します。