光学式検査装置

ウェハバンプ検査装置

RWi/TWiシ リーズは、半導体ウェハ上に形成された様々なバンプを2D/3Dで測定可能な光学検査装置です。

RWiシリーズ

RWiシリーズ

RWiシリーズは、半導体ウェハ上に形成された様々なバンプを2D/3Dで測定可能な光学検査装置です。

TWiシリーズ

TWiシリーズ

TWiシリーズは、半導体ウェハ上に形成された金バンプの2D/3D検査を特徴とする光学検査装置です。