2016年11月24日(木)から26日(土)中国・深センで開催されますC-Touch & Display Shenzhen 2016に出展いたします。今展示会では、新開発のタッチパネル向け検査装置「NRFEIS-730」をご紹介予定です。
ドライバーIC実装前の状態で、電気的導通(OPEN)、短絡(LEAK)、容量(Capacitance) 検査が可能です。
その他にも、お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案します。ぜひ一度、弊社のブースへお越しください。

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