2017年6月7日(水)から9日(金)に東京・江東区で開催されますJPCA Show 2017に出展いたします。
本年のJPCA Showではスマートフォン、タブレット、MSAP工法向け電気検査装置STAR REC M6Ⅱ、高速・高精度化したFPC(フレキシブル基板)検査装置NRFEIS-3045Xの実機デモをはじめ、高速微細容量測定R-730テスター等、幅広い展示ラインナップを用意し、電気検査、光学検査を中心に、検査・計測に関するソリューションをご提案致します。
ぜひ弊社ブースへお越しください。

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