전시회 정보

당사의 제품 및 기술을 소개하는 전시회 정보가 게재되어 있습니다.
꼭 한번 저희 부스를 찾아주시기 바랍니다.

전시회 정보

【NEW】

SEMICON JAPAN 2017 출전 알림

2017년 12월 13일(수) 부터 15일(금) 까지 도쿄・고토구에서 개최되는 SEMICON JAPAN 2017에 출전합니다.
올해 11월부터 SV Probe社(SV Probe Pte.Ltd.)가 당사 그룹에 추가되었습니다. 반도체 프로세스에서 필요한 검사기술을 제공하고, 다양화・고도화된 고객의 니즈에 부응합니다. 올해는 반도체 Wafer용「프로브 카드」「MEMS 스프링 프로브」에 의한 프로빙기술을 비롯하여 반도체 Wafer용 전기검사 시스템 등 최첨단의 토탈검사솔루션을 제안해 드립니다. 당사 부스에 방문해 주시길 기다리고 있겠습니다.

주요 전시 내용

・MEMS 스프링 프로브
・프로브 카드
・반도체 Wafer용 전기검사 시스템
・광학식 범프 검사장비 Rwi시리즈 등

출품 개요

기간 2017년 12월 13일(수)~15일(금)
장소 도쿄빅사이트
전시 부스 No. 2437 (Hall2)
공식 사이트 http://www.semiconjapan.org/en/

JPCA Show 2017 출전알림

2017년 6월 7일(수)부터 9일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 JPCA Show 2017에 출전합니다.
금년도 JPCA Show에서는 스마트폰, 태블릿, MSAP공법용 전기검사장비 STAR REC M6Ⅱ, 고속・고정도화한 FPC (플랙시블 기판) 검사장비 NRFEIS-3045X의 실제장비 데모를 비롯하여, 고속미세용량측정 R-730 테스터 등, 폭넓은 전시 라인업을 준비하고, 전기검사, 광학검사를 중심으로 검사・계측에 관한 솔루션을 제안해 드립니다. 당사 부스에 방문해 주시길 기다리고 있겠습니다.

주요 전시 내용

・MSAP공법용 전기검사장비 「STAR REC M6Ⅱ」(실제장비 데모)
・FPC용 검사장비 「NRFEIS-3045X」 (실제장비 데모)
・고속C용량 테스터 「R-730」(실제장비 데모)
・MSAP공법용 Peeling / Detaching 자동화장비「NRDF/NRCL/NRCR 시리즈」
・광학식 외관검사장비 「RSH, RWi시리즈」
・SiP용 검사장비 「GATS-7755」
・컴팩트, 고속검사장비 「GATS-6310」
・고정도 지그 「Φ25μm지그」 다수

출품 개요

기간 2017년 6월7일(수)~9일(금)
장소 도쿄 빅사이트 동전시동
전시 부스 7C-14
공식 사이트 http://www.jpcashow.com/show2017/index.html

사람과 자동차의 테크놀로지전 2017 출전알림

2017년 5월24일(수)부터 26일(금)까지 요코하마에서 개최되는 자동차 기술전 사람과 자동차의 테크놀로지전 2017에 출전합니다.
이번 전시회에서는 DEWETRON社 제품「차량용 데이터 로거」를 중심으로 제품을 전시합니다. 올인원형 차량용 모델이나 분리형도 다수. 동기모델을 중심으로 고객님께 소개해 드립니다. 기간 중에는 실제기기의 전시도 있습니다. 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・DEWETRON社 제품 데이터 로거
 - DEWE2 A4
 - TRIONet
 - 각종 센서 등

출품 개요

기간 2017년 5월 24일(수)~26일(금)
장소 파시피코 요코하마
전시 부스 No.63
공식 사이트 http://expo.jsae.or.jp/english/

KPCA Show 2017 출전알림

2017년 4월 25일(화)부터 27일(목)까지 한국에서 개최되는 KPCA Show에 출전합니다.
이번 전시회에서는 FPC(플렉시블 프린트 기판) 검사용 「NRFEIS-3045X」、「NRFEIS-5060C」의 실제 제품 데모 전시를 실시합니다. 이 장비에 탑재가능한 고정도 지그 전시 및 고속C용량 테스터「R-730」도 소개합니다. 고객의 요구에 맞춘 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 꼭 당사 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・ FPC용 검사장비「NRFEIS-3045X」、「NRFEIS-5060C」
・ 고정도 지그
・ 고속C용량 테스터「R-730」 등

출품 개요

기간 2017년 4월 25일(화)~27일(목)
장소 KINTEX(경기도)
전시 부스 F-G 301
공식 사이트 http://www.kpcashow.com/kor/main.asp

Semicon Southeast Asia 2017 출전 알림

2017년 4월25일(화)부터 27일(목)까지 말레이시아・페낭에서 개최되는 Semicon Southeast Asia 2017에 출전합니다.
본 전시회에서는 세계최소경으로 초미세한 검사 피치에도 대응하는 「MEMS스프링 프로브」와, 고속・고정도「반도체 웨이퍼 범프 광학검사장비」등 최첨단 검사솔루션을 제안해 드립니다. 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・광학식 검사장비「RWi-300」시리즈
・프로브 카드용 MEMS스프링 프로브
・루스콤社 제품 마이크로 튜브 등

출품 개요

기간 2017년 4월 25일 (화)~27일(목)
장소 SPICE Arena
전시 부스 #905
공식 사이트 http://www.semiconsea.org/

제27회 FINETECH JAPAN 출전 알림

2017년 4월 5일(수)부터 7일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 제27회 FINETECH JAPAN에 출전합니다.
이번 전시회에서는 적층 FPC(플렉시블 프린트 기판) 검사장비「NRFEIS-3045X」및, 터치패널용 고속C 용량 검사장비「NRFEIS-730」의 시연회를 할 예정입니다. 이 외에도 고객의 요구에 맞추어 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 부담 없이 당사 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・터치패널용 고속C용량 검사장비  NRFEIS-730
・적층 FPC 검사장비 NRFEIS-3045X 등

출품 개요

기간 2017년 4월 5일 (수)~7일(금)
장소 도쿄 빅사이트
전시 부스 37-9
공식 사이트 http://www.ftj.jp/en/Home/

CPCA Show 2017 출전 알림

2017년3월7일(화)부터 9일(목)까지 중국・상하이시에서 개최되는 CPCA Show 2017에 출전합니다.
이번 전시회에서는 터치패널용 검사장비와 임베디드 기판검사대응 고속테스터를 소개할 예정입니다. 아울러, 고정도 지그 및 60μm피치 대응 세계최소지름 MEMS 스프링 프로브 전시도 예정되어 있습니다.
고객님의 요구에 맞춘 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 전시기간 중에 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・터치패널용 검사장비 NRFEIS-730
・임베디드 기판검사대응 고속 테스터 R-5910i
・MEMS 스프링 프로브
・고정도 지그 등

출품 개요

기간 2017년 3월 7일(화)~9일(목)
장소 중국 상하이 국가전회중심
전시 부스 7K99
공식 사이트 http://www.ying-zhan.com/index.asp

간사이 정보 Security EXPO 출전 알림

2017년 2월 15일(수) 부터 17일(금) 오사카에서 개최되는 제 1회 간사이 정보 Security EXPO에 출전합니다.
이번 전시회에서는 생체인증 ・ Access control 시스템용 모듈을 키워드로 한 제품을 소개합니다.
빈손으로 잠금・해지가 가능한 주택용 홍채인식 모듈이나, 제조장비 등의 User Access 관리용 홍채인식 모듈 등 용도에 맞는 제품을 소개해 드립니다. 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주시길 기다리고 있겠습니다.

주요 전시 내용

・주택용 홍채인식 모듈
・User Access 관리용 홍채인식 모듈
・기밀물 보관 기기용 홍채인식 모듈
・입국심사용 홍채인식 모듈(Iritech社 제품)등

출품 개요

기간 2017년 2월 15일(수)~17일(금)
장소 INTEX Osaka
전시 부스 7-3
공식 사이트 http://www.japan-it.jp/en/Home_Osaka/

제9회 국제 카 일렉트로닉스 기술전 출전 알림

2017년1월18일(수)부터 20일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 제9회 국제 카 일렉트로닉스 기술전에 출전합니다.
올해의 전시회에서는 DEWETRON사 제품「DEWE2-A4」、「TRIONet」을 비롯하여 자동차용 계측・검사 솔루션을 제안하고, 카메라 모듈용 「Embedded Package」 등의 신개발품에 대해서도 소개해 드립니다.
전시 기간 중에는 데이터 로거의 실제 기기 전시도 예정되어 있습니다. 검사나 계측에서 어려움이 있으시다면, 꼭 당사 부스에서 상담해 주십시오.

주요 전시 내용

·DEWETRON사 제품 각종 계측기 「DEWE2-A4」、「TRIONet」
·카메라 모듈용 「Embedded Package」
·자동차용 각종 계측기・검사장비
그 밖에 그룹회사 및 파트너 기업 제품 등

출품 개요

기간 2017년 1월 18일(수)~20일(금)
장소 도쿄 빅사이트 히가시홀
전시 부스 E42-28
공식 사이트 http://www.car-ele.jp/en/Home/

SEMICON JAPAN 2016 출전 알림

2016년12월14일(수)부터 16일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 SEMICON JAPAN 2016에 출전합니다.
이번 전시회에서는 반도체 제조와 연관된 당사의 종합 솔루션을 제안해 드립니다.
신개발된 내열용 및 반도체 패키지용 고주파 대응 「MEMS Spring Probe」를 비롯하여 반도체 Wafer/프린트 기판용「광학검사장비」등, 최첨단 검사 솔루션을 소개해 드립니다. 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・광학식 검사장비 Rwi시리즈 / RSH시리즈
・MEMS Spring Probe 내열용 / 반도체 패키지 검사용
・마이크로 튜브 등

출품 개요

기간 2016년 12월 14일(수)~16일(금)
장소 도쿄 빅사이트
전시 부스 1429
공식 사이트 http://www.semiconjapan.org/en/

C-Touch & Display 선전(Shenzhen) 2016 출전 알림

2016년11월24일(목)부터 26일(토)까지 중국・선전에서 개최되는 C-Touch & Display 선전(Shenzhen) 2016 에 출전합니다. 이번 전시회에서는 신규 개발한 터치패널용 검사장비 「NRFEIS-730」을 소개할 예정입니다.
드라이버 IC실장 전 상태에서, 고속C용량(Capacitance)검사가 가능합니다. 전기적 도통(OPEN), 단락(LEAK), 검사도 가능하며, 높은 처리량, 높은 신뢰성, 높은 유지보수성을 실현하고 있습니다.
그 밖에도, 고객의 요망에 맞춘 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 당사 부스에 꼭 한번 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・터치패널 검사장비 「NRFEIS-730」(실제 장비 데모)등

출품 개요

기간 2016년11월24일(목)~26일(토)
장소 Shenzhen Convention & Exhibition Center
전시 부스 1C-229
공식 사이트 http://sz.quanchu.com.cn/hanwen/index.htm

TPCA Show 2016 출전 알림

2016년 10월 26일 (수) 부터 28일 (금)까지 타이완・타이페이에서 개최되는 TPCA Show 2016에 출전합니다.
이번 전시회에서는 2차원/3차원 기판검사장비 「RSH-M120C」의 실제 장비의 데모를 비롯해 임베디드 기판검사대응 고속 테스터 「R-5910i」, MSAP공법용 peeling・detach 자동화 장비 등, 폭넓은 전시 라인업을 갖추고 있습니다. 전기검사, 광학검사를 중심으로 검사・계측에 관한 솔루션을 고객의 요구에 맞추어 제공해 드립니다. 꼭 당사 부스에 방문해 주시기를 기다리고 있겠습니다.

주요 전시 내용

・2차원/3차원 기판검사장비 「RSH-M120C」 (장비 시연)
・FPC용 검사장비 「NRFEIS-3045/5060」
・반도체 패키지 검사장비 「GATS-7755/7756」「GATS-7540/GATS-8600」
・프린트 기판검사장비 「STAR REC M6ⅡSW 32K」
・임베디드 기판 테스터 「R-5910i」(장비 시연)
・고정도 지그 「Φ15μm지그」「MEMS Spring probe」
・MSAP공법용 Peeling/Detach 자동화 장비「NRDF/NRCL/NRCR시리즈」

출품 개요

기간 2016년 10월 26일 (수)~28일(금)
장소 타이페이 난강전시관
전시 부스 I1114
공식 사이트 http://www.tpcashow.com/en/

정보 Security 가을EXPO 출전 알림

2016년 10월 26일(수) 부터 28일(금) 치바・마쿠하리에서 개최되는 제 6회 정보 Security 가을EXPO에 출전합니다.
이번 전시회에서는 생체인증 ・ Access control 시스템용 모듈을 키워드로 한 제품을 소개합니다.
빈손으로 잠금・해지가 가능한 주택용 홍채인식 모듈이나, 제조장비 등의 User Access 관리용 홍채인식 모듈 등 용도에 맞는 제품을 소개해 드립니다. 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주시길 기다리고 있겠습니다.

주요 전시 내용

・주택용 홍채인식 모듈
・User Access 관리용 홍채인식 모듈
・입국심사용 홍채인식 모듈(Iritech社 제품)등

출품 개요

기간 2016년 10월 26일(수)~28일(금)
장소 마쿠하리메세
전시 부스 11-36
공식 사이트 http://www.japan-it.jp/en/aki/

JPCA Show 2016 출전 알림

2016년 6월 1일(수)부터 3일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 JPCA Show 2016에 출전합니다.
이번 전시회에서는 고속・고정도化의 FPC (플렉시블 기판) 검사장비 「NRFEIS-3045X」의 실제 장비 데모를 시작으로 신개발 고속 C용량 테스터와 MSAP공법용 Peeling・Detaching 자동화 장비 등 다양한 전시 라인업을 갖추고 있습니다. 전기검사, 광학검사를 중심으로 검사・계측에 관한 솔루션을 고객의 요구에 맞춰 제공해 드립니다. 부디 시간 내시어 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주시길 기다리고 있겠습니다.

주요 전시 내용

・FPC용 검사장비 「NRFEIS-3045X」(실제 장비 데모)
・고속C용량 테스터 「R-730」(실제 기기 데모)
・MSAP공법용 Peeling / Detaching 자동화 장비 「NRDF/NRCL/NRCR시리즈」
・광학식외관검사장비 「RSH-S230T」, 「RWi-300」
・SiP용 검사장비 「GATS-7755/R-5910is」
・프린트기판 검사장비 「STAR REC M6ⅡWide/SW」
・고정도 지그 「Φ25μm지그」
・차량용 데이터 로거 「Trend Coder」

출품 개요

기간 2016년 6월 1일(수)~3일(금)
장소 도쿄 빅사이트  동 전시동
전시 부스 5D-16
공식 사이트 http://www.jpcashow.com/show2016/en/

사람과 자동차의 테크놀로지전 2016 출전 알림

2016년 5월 26일(수)부터 28일(금)까지 요코하마에서 개최되는 자동차 기술전 사람과 자동차의 테크놀로지전 2016에 출전합니다.
이번 전시회에서는 DEWETRON社 제품 「차량용 데이터 로거」를 중심으로 제품을 전시합니다. 채택실적이 풍부한 올인원 타입의 제품, 멀티 터치 기능형 터치패널 탑재 제품과 보다 빠르고 콤팩트한 신형 로거 TRIONet도 소개할 예정입니다. 전시회 기간 중에는 실제 기기의 전시도 있습니다. 꼭 한번 당사 부스에 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

・DEWETRON社 제품 데이터 로거
 - DEWE2 A4
 - TRENDCORDER
 - TRIONet(신제품)
 - CVT Logger 등

출품 개요

기간 2016년 5월 26일(수)~28일(금)
장소 파시피코 요코하마
전시 부스 No.59
공식 사이트 http://expo.jsae.or.jp/english/

Semicon Southeast Asia 2016 출전 알림

2016년 4월 26일(화)부터 28일(목)까지 말레이시아・페낭에서 개최되는 Semicon Southeast Asia 2016에 출전합니다.
이번 전시회에서는 60μm피치 대응 세계최소지름 「MEMS스프링 프로브/제조장비」, 「반도체 웨이퍼 범프 광학검사 장비」를 중심으로 최첨단 검사 솔루션을 제안합니다. 저희 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・ F광학식 검사장비 RWi-300시리즈
・ 프로브카드용 MEMS스프링 프로브/제조장비 등

출품 개요

기간 2016년 4월 26일 (화)~28일 (목)
장소 SPICE Arena
전시 부스 B122
공식 사이트 http://www.semiconsea.org/

KPCA Show 2016 출전 알림

2016년 4월 26일(화)부터 28일(목)까지 한국에서 개최되는 KPCA Show에 출전합니다.
이번 전시회에서는 FPC(플렉시블 프린트 기판) 검사용 「NRFEIS-3045A」의 실물 데모전시를 실시합니다. 이 장비에 탑재 가능한 고정도 지그의 전시 및 고속C용량 테스터 「R-730」도 소개합니다. 고객의 요구에 맞춘 검사솔루션을 제안해 드립니다. 저희 부스에 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・ FPC용 검사장비 NRFEIS-3045A
・ 고정도 지그
・ 고속C용량 테스터 R-730 등

출품 개요

기간 2016년 4월 26일 (화)~28일(목)
장소 KINTEX(경기도)
전시 부스 E~F 115
공식 사이트 http://www.kpcashow.com/kor/main.asp

제26회 FINETECH JAPAN(국제 터치패널 기술전)출전 알림

2016년 4월 6일(수)부터 8일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 제26회 FINETECH JAPAN(국제 터치패널 기술전)에 출전합니다. 이번 전시회에서는 FPC(플렉시블 프린트 기판)검사용 「신형 NRFEIS 시리즈」를 비롯하여, HDI기판 제조 MSAP공법용 「peeling/detach 자동화 장비」와 고정도 테스터 「R-730」등 신제품을 다수 소개할 예정입니다.
터치패널이나 FPC용 검사 솔루션에 관해서는 당사에 문의해 주십시오.

주요 전시 내용

・ FPC용 검사 장비 신형 NRFEIS시리즈
・ HDI기판 제조 MSAP공법용 peeling/detach 자동화 장비
・ 고속/고정도 테스터 외

출품 개요

기간 2016년 4월 6일(수)~8일(금)
장소 도쿄 빅사이트 동홀
전시 부스 E48-30
공식 사이트 http://www.tpjapan.jp/en/Home/

CPCA Show 2016 출전 알림

2016년 3월15일(화)부터 17일(목)까지 중국・상하이시에서 개최되는 CPCA Show 2016에 출전합니다.
이번 전시회에서는 고속 고정도 HDI기판 검사장비의 실제 시연을 시작으로, 플렉시블 기판용 검사장비와 신규 등장한 peeling・
detach 자동화 장비를 소개할 예정입니다. 아울러, 고정도 지그의 전시도 예정되어 있습니다.
고객의 요구에 맞춘 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 출전 기간 중에 저희 부스에 한번 방문해 주십시오.

주요 전시 내용

・프린트 기판 검사장비 STAR REC M6시리즈
・플렉시블 기판 검사장비 NRFEIS 시리즈
・HDI기판 제조 MSAP공법용 peeling/detach 자동화 장비
・고정도 지그 등

출품 개요

기간 2016년 3월 15일(화)~17일(목)
장소 중국 상하이 뉴 인터내셔널 엑스포 센터
전시 부스 6D68
공식 사이트 http://www.cpcashow.com/en/index.asp

제8회 국제 카 일렉트로닉스 기술전 출전 알림

2016년1월13일(수)부터 15일(금)까지 도쿄・고토구에서 개최되는 「제8회 국제 카 일렉트로닉스 기술전」에 출전합니다.
올해의 전시회에서는 DEWETRON사 製「TRENDCODER」나 「CVT로거」, 「TRL비접촉 와이어 하니스 테스터」를 중심 으로 자동차용 검사 솔루션을 소개하고, 신규 개발 상품 「홍채인식모듈」이나 기타 제품에 대해서도 소개해 드립니다.
전시기간 중에는 실제 전시된 기기의 시연도 실시할 예정입니다. 검사나 계측에서 어려운 점이 있을 때는 꼭 저희 부스에서 상담해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

・DEWETRON사製 각종계측기 「DEWE2A4」, 「TRENDCODER」, 「CVT로거」
・와이어 하니스용 「TRL비접촉 테스터」
・차량용 「홍채인식 모듈」
 기타, 그룹회사 및 파트너 기업 제품 다수

출품 개요

기간 2016년1월13일(수)~15일(금)
장소 도쿄 빅사이트 서홀
전시 부스 W1-35
공식 사이트 http://www.car-ele.jp/en/Home/

Semicon Japan 2015 출전 알림

2015년12월16일(수)부터 18일(금)까지 도쿄・코토구에서 개최되는 Semicon Japan 2015에 출전합니다.
올해 전시회에서는 60μm피치 대응의 세계최소지름 「MEMS스프링 프로브/제조장비」, 「반도체 웨이퍼 범프 광학 검사 장비」를 중심으로 최첨단 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 또한, 이번 전시회의 전시테마 중 하나인 「IoT」대응용 신제품도 소개해드릴 예정입니다. 고객의 요구에 부응하여 최적의 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 꼭 저희 부스에 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

・광학식 검사장비 「RWi-300시리즈」
・프로브 카드용 「MEMS스프링 프로브 /제조장비」
  ・IoT 대응 솔루션 「IDEAS」외

출품 개요

기간 2015년12월16일(수)~18일(금)
장소 도쿄 빅사이트
전시 부스 1708
공식 사이트 http://www.semiconjapan.org/en/exhibits

TPCA Show 2015 출품 안내

2015년 10월 21일(수)부터 23일(금)까지 타이완・타이페이시에서 개최되는 TPCA Show 2015에 출품합니다.
이번 전시회에서는 플렉시블 기판검사장비「NRFEIS-5060」의 실제기기 전시를 시작으로, 신형 fine pitch FC-CSP용 검사장비와 광학식 검사장비등 고객의 요구에 맞춘 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 고정도 테스터「R-5810is」와 IoT에 대응하는 제품도 전시예정이오니, 기간중에 방문해 주시면 감사하겠습니다.

주요 전시 내용

・플렉시블 기판용 검사장비「NRFEIS-5060」
・fine pitch FC-CSP용 검사장비「GATS-7755」
・프린트 기판용 검사장비「STAR REC M6ⅡSW」
・광학식 검사장비 「RSH-S120/RWi-300」
・고정도 테스터 「R-5810is」
・고정도 지그 「Φ15μm BB프로브 지그」
・IoT(Internet of Things)대응 솔루션「IDEAS」등

출품 개요

기간 2015년 10월 21일(수)~23일(금)
장소 타이페이 남강전시관
전시 부스 J329
공식 사이트 http://www.tpcashow.com/en

JPCA Show 2015 출품 안내

2015년 6월 3일(수)~5일(금), 도쿄 빅사이트에서 개최되는 ‘JPCA Show 2015’에 출품합니다. 올해 JPCA Show에서는 반도체 패키지용 검사 장비 ‘GATS-6310’ 및 플렉시블 기판용 통전 검사 장비 ‘NRFEIS-3045A’의 실제 기기 전시를 비롯하여 광학계 검사 기술 및 차량 부품용 검사 장비 등 다방면에 걸쳐 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 더욱 향상된 성능의 테스터 및 고정밀도 지그 등의 제품도 전시하므로, 부디 시간 내시어 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

·반도체 패키지 검사 장비 ‘GATS-6310’
·프린트 기판용 검사 장비 ‘STARREC M6ⅡWide/SW’
·고속/고정밀도 테스터 ‘R-6510is’
·광학식 외관 검사 장비 ‘RSH-S230T’, ‘RWi-300’
·고정밀도 검사 지그 동축 MEMS 프로브, 15μm 프로브 지그, 유니버셜 지그
·플렉시블 기판용 검사 장비 ‘NRFEIS-3045A’
·차량용 데이터 로거 ‘Trend Coder’ 그 외

출품 개요

기간 2015년 6월 3일(수)~5일(금)
장소 도쿄 빅사이트 동쪽 5홀
전시 부스 5C-04
공식 사이트 http://www.jpcashow.com/show2015/en/

사람과 자동차의 테크놀로지전 2015 출품 안내

2015년 5월 20일(수)∼22일(금), 파시피코 요코하마에서 개최되는 자동차기술회 주최의 자동차 기술전 ‘사람과 자동차의 테크놀로지전 2015’에 출품합니다. 처음 출품하게 된 올해는 DEWETRON사 제품인 ‘차량용 데이터 로거’를 중심으로 제품을 전시합니다. 풍부한 채택 실적이 있는 올인원 타입의 제품과 멀티터치 기능형 터치패널을 탑재한 신제품도 소개할 예정입니다. 실제 기기도 전시하므로, 부디 시간 내시어 꼭 당사 부스를 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

·DEWETRON사 제품의 데이터 로거
‘DEWE2-A4’, ‘Trend Coder’, ‘DEWE2-M4’

출품 개요

기간 2015년 5월 20일(수)∼22일(금)
장소 파시피코 요코하마
전시 부스 No. 34
공식 사이트 http://expo.jsae.or.jp/english/

파인테크 재팬(국제 터치패널 기술전) 출품 안내

2015년 4월 8일(수)∼10일(금), 도쿄 빅사이트에서 개최되는 ‘제25회 파인테크 재팬 병설 국제 터치패널 기술전’에 출품합니다. 올해는 신형 터치패널 검사 장비 ‘NRFEIS-Series’를 소개함과 동시에, 채택 실적이 풍부한 터치패널 검사 솔루션을 제안해 드립니다. 실제 기기도 전시하므로, 부디 시간 내시어 꼭 당사 부스를 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

·터치패널 검사 장비 NRFEIS-3045A (데모 실시)
·터치패널 검사 장비 NRTES 시리즈

출품 개요

기간 2015년 4월 8일(수)∼10일(금)
장소 도쿄 빅사이트
전시 부스 동쪽 홀 49-39
공식 사이트 http://www.ftj.jp/zh-cn/Home/

CPCA Show 2015 출품 안내

2015년 3월 17일(화)~19일(목)에 개최되는 CPCA Show 2015에 출품합니다. 이번 전시회에서는 fine pitch & 박판 FC-CSP 기판 검사에 대응하는 최신형 프린트 기판 검사 장비 및 풍부한 라인업의 검사 지그를 소개해 드립니다. 실제 기기도 전시하므로, 여러분 꼭 한번 당사 부스를 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

·반도체 패키지 검사 장비 GATS-6310 (데모 실시)
·터치패널 검사 장비 NRFEIS Series
·각종 검사 지그 (유니버설 지그, COAX 지그, φ15μm 지그 등)

출품 개요

기간 2015년 3월 17일(화)∼19일(목)
장소 Shanghai New International Expo Center
전시 부스 7F78
공식 사이트 http://www.cpcashow.com/index.asp

제7회 국제 카 일렉트로닉스 기술전 출품 안내

2015년 1월 14일(수)~16일(금)에 개최되는 제7회 국제 카 일렉트로닉스전에 출품합니다. 부스에서는 ‘TRL 비접촉 와이어 하네스 테스터’와 ‘DEWETRON사 제품인 데이터 로거’를 중심으로 자동차용 검사 솔루션을 소개함과 동시에, 기술 공동 개발을 통한 최신의 임베디드 카메라 모듈 및 기타 제품도 준비하였습니다. 전시회 기간 중에는 실제 기기를 전시하여 데모도 실시할 예정입니다. 꼭 당사 부스를 방문해 주시기 바랍니다.

주요 전시 내용

·TRL 비접촉 와이어 하네스 테스터
·All-in-One 포터블 데이터 로거

출품 개요

기간 2015년 1월 14일(수)∼16일(금)
장소 도쿄 빅사이트
전시 부스 서쪽 4-44
공식 사이트 http://www.car-ele.jp/en/Home/