MEMS 스프링 프로브

LSI 검사용 스프링 프로브

마이크로 프로세서나 어플리케이션 프로세서 등의 반도체 웨이퍼 검사에 최적인 MEMS 스프링 프로브입니다.

·검사 피치 90μm에 대응 가능

·독자적인 구조로 저저항

·저인덕턴스를 실현·프로브 제조 프로세스로서의 도입 제안도 가능

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