반도체 패키지 기판 검사 장비

MCM, CSP, BGA 등 반도체 패키지의 도통·절연(OPEN/LEAK) 검사를 실시하는 검사 장비 “GATS: Grid Array Testing System” 시리즈입니다. 대형에서 중소형까지 각종 기판을 검사하는 라인업을 폭넓게 갖추고 있습니다.

GATS-2128

GATS-2128

FC-BGA 또는 MCM 등 고밀도 배선이 요구되는 개별 단위 타입의 패키지 기판의 도통·절연 검사 장비입니다.

GATS-6310

GATS-6310

fine pitch의 박판 FC-CSP 기판의 검사에 최적인 고속·고정밀도 대응 가능한 차세대형 검사 장비입니다.

GATS-7711

GATS-7711

FC-CSP 등의 다면 형성된 반도체 패키지 기판 위 회로 패턴의 도통·절연 검사에 적합한 표준 모델입니다.

GATS-7750

GATS-7750

더욱 fine pitch화된 FC-CSP 기판의 도통·절연 검사에 적합한 고속·고정밀도 모델입니다.

GATS-7850

GATS-7850

가로세로 250mm 패널 사이즈의 FC-BGA 기판의 도통·절연 검사용으로 개발된 차세대 검사 장비입니다.