반도체 패키지 기판 검사 장비

GATS-7750

더욱 fine pitch화된 FC-CSP 기판의 도통·절연 검사에 대응한 고속·고정밀도 모델입니다.

·강성이 높은 설계 메커니즘으로 종합 위치결정 정밀도는 ±2.5μm을 실현

·코어리스 기판 등의 얇은 패키지 기판 검사에 대응

·최대 제품 사이즈
W150mm×D250mm (검사 영역: W140mm×D240mm)

GATS-7750