展会信息

介绍我公司产品・技术等展会的相关信息

敬请莅临我公司展位

展会信息

【NEW】

SEMICON JAPAN 2017 参展通知

我司将于2017年12月13日(星期三)~15日(星期五)期间,参加在东京・江东区举行的SEMICON JAPAN 2017展。从今年11月起,SV 探针公司(SV Probe Pte.Ltd.)正式加入我司。为半导体制程提供不可缺少的检查技术,对应客户多样化・高度化的需求。今年的展会,我司将推出以面向半导体晶圆检测的「探针卡」「MEMS弹簧探针 」为代表的探测技术,为大家提供半导体圆晶用通电检测系统等最先进的综合检测解决方案。
敬请莅临我司展位。

主要展出产品

・MEMS弹簧探针
・探针卡
・半导体晶圆用通电检测系统
・光学式凸块检测装置 Rwi系列 其他

展会概况

时间 2017年12月13日(星期三)~15日(星期五)
地点 东京国际展览中心
展位 No. 2437 (Hall2)
官网 http://www.semiconjapan.org/en/

JPCA Show 2017 参展通知

本届展会,我司将进行可对应智能手机,平板电脑以及MSAP工法检测的电气检测设备STAR REC M6Ⅱ的实机展示,高速度·高精度的FPC(柔性电路板)检测设备NRFEIS-3045X的实机展示。此外还准备了高速微细电容测试仪R-730等一系列丰富的产品阵容。我们将以电气、光学检测为中心,提供检测·计量方面的一系列解决方案。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・对应MSAP工法的电气检测设备「STAR REC M6Ⅱ」(实机展示)
・对应FPC的检测设备 「NRFEIS-3045X」 (实机展示)
・高速度C电容测试仪 「R-730」(实机展示)
・对应MSAP工法Peeling /detached自动化设备「NRDF/NRCL/NRCR系列」
・光学式外观检测设备 「RSH、RWi系列」
・对应SiP的检测设备 「GATS-7755」
・一体化高速度检测设备 「GATS-6310」
・高精度治具 「Φ25μm治具」、其他同类产品

展会概况

时间 2017年6月7日(三)~9日(五)
地点 东京国际会展中心 东展馆
展位 7C-14
官网 http://www.jpcashow.com/show2017/index.html

人与车科技展2017 参展通知

我司将于2017年5月24日(星期三)~26日(星期五)参加在日本横滨举行的「汽车技术展 人与车科技展2017」。
本届展会,我司以DEWETRON公司生产的「车载数据记录仪」为中心,着力为您介绍面向车载的多合一机型、分离型多频同期机型。届时我们将进行实机展示。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・DEWETRON公司生产 数据记录仪
 - DEWE2 A4
 - TRIONet
 - 各种感应器 及其他

展会概况

时间 2017年5月24日(星期三)~26日(星期五)
地点 太平洋横滨
展位 No.63
官网 http://expo.jsae.or.jp/english/

KPCA Show 2017 参展通知

我司将于2017年4月25日(星期二)~27日(星期四)参加在韩国・首尔举行的KPCA Show。
本届展会,我司主要展出面向FPC(挠性印刷电路板)的检测装置「NRFEIS-3045X」、「NRFEIS-5060C」,并进行实机演示。同时展出可搭载于该装置的高精度治具。此外,还将向大家介绍高速C容量测试仪「R-730」。根据客户的需求,提供最合理的检测解决方案是我们的使命。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・面向FPC的检测装置「NRFEIS-3045X」、「NRFEIS-5060C」
・高精度治具
・高速C容量测试仪「R-730」 及其他

展会概况

时间 2017年4月25日(星期二)~27日(星期四)
地点 KINTEX(京畿道)
展位 F-G 301
官网 http://www.kpcashow.com/chn/content/overview.asp

Semicon Southeast Asia 2017 参展通知

我司将于2017年4月25日(星期二)~27日(星期四)参加在马来西亚・槟城举办的Semicon Southeast Asia 2017。
本届展会,我们主要展出全球直径最小、可对应超细微间距检测的「MEMS弹簧探针」、高速度・高精度的「半导体晶圆Bump光学检测装置」等。同时,可根据客户的需求,提供最先进、最合理的检测解决方案。敬请莅临。

主要展出产品

・光学检测装置「RWi-300」系列
・探针卡专用MEMS弹簧探针
・LuzCom造 微型管 及其他

展会概况

时间 2017年4月25日(星期二)~27日(星期四)
地点 SPICE Arena
展位 #905
官网 http://www.semiconsea.org/

第27回 FINETECH JAPAN(日本触控展) 参展通知

我司将于2017年4月5日(星期三)~7日(星期五)参加在东京・江东区举办的第27届FINETECH JAPAN(日本触控展)。
本届展会,我司主要展出面向多面FPC(挠性印刷电路板) 的检测装置「NRFEIS-3045X」 、及面向触摸屏的高速C容量检测装置「NRFEIS-730」。同时,我们可根据客户的需求,提出最佳检测解决方案。敬请莅临我司展位参观咨询。

主要展出产品

・面向触摸屏的高速C容量检测装置NRFEIS-730
・面向多面FPC的检测装置 NRFEIS-3045X 及其他

展会概况

时间 2017年4月5日(星期三)~7日(星期五)
地点 东京国际会展中心
展位 37-9
官网 http://www.ftj.jp/en/Home/

CPCA Show 2017 参展通知

我司将于2017年3月7日(星期二)~ 9日(星期四)参加在中国·上海举办的CPCA Show 2017。
本届展会,我们主要展出触摸屏检测装置以及对应内嵌部品检测的高速测试仪。同时,将着重介绍高精度治具及对应60μm的全世界直径最小的 MEMS弹簧探针。
我们努力做到根据客户的需求,提供最合理的检测解决方案。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・触摸屏检测装置 NRFEIS-730
・对应内嵌部品检测的高速测试仪 R-5910i
・MEMS弹簧探针
・高精度检测治具及其他

展会概况

时间 2017年3月7日(星期二)~9日(星期四)
地点 中国上海国家会展中心
展位 7K99
官网 http://www.ying-zhan.com/index.asp

关西信息安全博览会 参展通知

我司将于2017年2月15日(星期三)~17日(星期五)参加在大阪举行的第1届关西信息安全博览会。
本届展会,我司将主要展出生物识别・访问控制系统用的模块。
届时,我们可根据您的需求,向您推介最合适的产品。如面向住宅市场的智能上锁・解锁的虹膜识别模块、对生产设备的用户访问进行管理的虹膜识别模块等。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・面向住宅市场的虹膜识别模块
・管理用户访问用的虹膜识别模块
・保密柜用的虹膜识别模块
・入境检查用的虹膜识别模块(Iritech公司产品)及其他

展会概况

时间 2017年2月15日(星期三)~17日(星期五)
地点 INTEX Osaka
展位 7-3
官网 http://www.japan-it.jp/en/Home_Osaka/

第9届 国际汽车电子技术展 参展通知

我司将于2017年1月18日(星期三)~20日(星期五)参加在东京・江东区举行的第9届国际汽车电子技术展。
本届展会,以DEWETRON公司研制的「DEWE2-A4」、「TRIONet」为主,我司将力推面向汽车领域的测量・检测解决方案。同时还将介绍面向摄像组件的「Embedded Package」等一系列最新研发成果。
届时,我们还将进行数据记录仪的实机展示。若有检测和测量方面的困惑或意向,请务必莅临我司展位,欢迎垂询。

主要展出产品

・DEWETRON公司研制的各种测量仪器「DEWE2-A4」、「TRIONet」
・面向摄像组件的「Embedded Package」
・面向汽车领域的各种测量仪器・检测装置
 及集团公司与合作企业的众多其他产品

展会概况

时间 2017年1月18日(星期三)~20日(星期五)
地点 东京国际展览中心 东大厅
展位 E42-28
官网 http://www.car-ele.jp/zh-cn/home/

SEMICON JAPAN 2016 参展通知

我司将于2016年12月14日(星期三)~16日(星期五)参加在东京・江东区举行的SEMICON JAPAN 2016。
本届展会,我司将推出半导体制造相关的综合检测解决方案。
届时,主要向大家介绍最新研发的耐高温、面向半导体封装检测的高频对应产品「MEMS弹簧探针」、面向半导体晶圆/ 印刷电路板的「光学检测装置」等最先进的检测解决方案。敬请莅临我司展位。

主要展出产品

・光学式检测装置 Rwi系列/ RSH系列
・MEMS弹簧探针 耐高温/半导体封装检测用
・微型管 及其他

展会概况

时间 2016年12月14日(星期三)~16日(星期五)
地点 东京国际展览中心
展位 1429
官网 http://www.semiconjapan.org/en/

C-Touch & Display Shenzhen 2016 参展通知

我司将于2016年11月24日(四)~26日(六)参加在中国・深圳举行的C-Touch & Display Shenzhen 2016展会。
本届展会,我司将向大家带来全新开发的触摸屏检测装置「NRFEIS-730」。
本装置可在驱动IC装配前的状态下,进行高速度的C容量检测(Capacitance)。同时也可进行电气的导通(OPEN)、短路(LEAK)、容量(Capacitance)检测。实现了高生产性、高信赖性和高可维护性。
另外,我司还可根据客户需求,提供我们的检测解决方案。敬请莅临我司展位。

主要展出产品

・触摸屏检测装置「NRFEIS-730」(实机展示)及其他

展会概况

时间 2016年11月24日(四)~26日(六)
地点 Shenzhen Convention & Exhibition Center
展位 1C-229
官网 http://sz.quanchu.com.cn/

TPCA Show 2016 参展通知

我司将于2016年10月26日(星期三)~28日(星期五)参加在台湾・台北举行的TPCA Show 2016。
本届展会,我司主要以2次元/3次元电路板检测装置「RSH-M120C」的实机展示为主,同时还准备了对应嵌入式电路板检测的高速测试仪「R-5910i」、面向MSAP工艺的自动剥离・分离装置等阵容齐全的产品。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・2次元/3次元电路板检测装置 「RSH-M120C」 (实机展示)
・面向FPC的检测装置 「NRFEIS-3045/5060」
・半导体封装检测装置 「GATS-7755/7756」「GATS-7540/GATS-8600」
・印刷电路板检测装置 「STAR REC M6ⅡSW 32K」
・嵌入式电路板测试仪 「R-5910i」(实机展示)
・高精度治具 「Φ15μm治具」「MEMS弹簧探针」
・面向MSAP工艺的自动剥离/分离装置 「NRDF/NRCL/NRCR系列」

展会概况

时间 2016年10月26日(星期三)~28日(星期五)
地点 台北南港展览馆
展位 I1114
官网 http://www.tpcashow.com/tw/

秋季信息安全博览会 参展通知

我司将于2016年10月26日(星期三)~28日(星期五)参加在千叶・幕张举行的第6届秋季信息安全博览会。
本届展会,我司将主要展出生物识别・访问控制系统用的模块。
届时,我们可根据您的需求,向您推介最合适的产品。如面向住宅市场的智能上锁・解锁的虹膜识别模块、对生产设备的用户访问进行管理的虹膜识别模块等。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・面向住宅市场的虹膜识别模块
・管理用户访问用的虹膜识别模块
・入境检查用的虹膜识别模块(Iritech公司产品)及其他

展会概况

时间 2016年10月26日(星期三)~28日(星期五)
地点 幕张展览馆
展位 11-36
官网 http://www.japan-it.jp/en/aki/

JPCA Show 2016 参展通知

我司将于2016年6月1日(星期三)~3日(星期五)参加在东京・江东区举行的JPCA Show 2016。
本届展会,我司主要进行高速度高精度化的FPC(挠性印刷电路板)检测装置「NRFEIS-3045X」、最新研发出的C容量高速测试仪「R-730」的实机展示。同时还准备了面向MSAP工艺的自动剥离・分离装置。产品阵容齐全。
以电气检测、光学检测为中心,根据客户的需求,提供最先进最合理的检测解决方案是我们的使命。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・面向FPC的检测装置 「NRFEIS-3045X」 (实机展示)
・C容量高速测试仪 「R-730」(实机展示)
・面向MSAP工艺的自动剥离/分离装置「NRDF/NRCL/NRCR 系列」
・光学式外观检测装置 「RSH-S230T」、「RWi-300」
・面向SiP的检测装置 「GATS-7755/R-5910is」
・印刷电路板检测装置 「S-REC M6ⅡWide/SW」
・高精度治具 「Φ25μm治具」
・车载数据记录仪 「Trend Coder」

展会概况

时间 2016年6月1日(星期三)~3日(星期五)
地点 东京国际展览中心 东展示栋
展位 5D-16
官网 http://www.jpcashow.com/show2016/en/

人与车科技展2016 参展通知

我司将于2016年5月26日(星期三)~28日(星期五)参加在日本横滨举行的「汽车技术展 人与车科技展2016」。
本届展会,我司以DEWETRON公司生产的「车载数据记录仪」为中心,同时为您介绍应用广泛的多合一系列产品、新一代多点触控型触摸屏产品、及更高速更精巧的新型记录仪TRIONet等产品。 届时我们将进行实机展示。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・DEWETRON公司生产 数据记录仪
 - DEWE A4
 - TRENDCORDER   - TRIONet(新产品)
 - CVT Logger 及其他

展会概况

时间 2016年5月26日(星期三)~28日(星期五)
地点 太平洋横滨
展位 No.59
官网 http://expo.jsae.or.jp/english/

Semicon Southeast Asia 2016 参展通知

我司将于2016年4月26日(星期二)~28日(星期四)参加在马来西亚・槟城举办的Semicon Southeast Asia 2016。
本届展会,我们主要展出对应60μm间距、世界上直径最小的「MEMS弹簧探针/制造装置」、「半导体晶圆Bump光学检测装置」。同时,将根据客户的需求,提供最先进合理的检测解决方案。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・光学检查装置 「RWi-300系列」
・探针卡用 「MEMS弹簧探针/制造装置」及其他

展会概况

时间 2016年4月26日(星期二)~28日(星期四)
地点 SPICE Arena
展位 B122
官网 http://www.semiconsea.org/

KPCA Show 2016 参展通知

我司将于2016年4月26日(星期二)~28日(星期四)参加在韩国・首尔举行的KPCA Show。
本届展会,我司主要展出面向FPC(挠性印刷电路板)的检测装置「NRFEIS-3045A」,并进行实机演示。同时展出可搭载于该装置的高精度治具。此外,还将向大家介绍高速C容量测试仪「R-730」。根据客户的需求,提供最合理的检测解决方案是我们的使命。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・面向FPC的检测装置NRFEIS-3045A
・高精度治具
・高速C容量测试仪 R-730 及其他

展会概况

时间 2016年4月26日(星期二)~28日(星期四)
地点 KINTEX(京畿道)
展位 E~F 115
官网 http://www.kpcashow.com/chn/content/overview.asp

第26回 FINETECH JAPAN(国际触摸屏技术展览会) 参展通知

我司将于2016年4月6日(星期三)~8日(星期五)参加在东京・江东区举办的第26届FINETECH JAPAN(国际触摸屏技术展览会)。
本届展会,我司主要展出面向FPC(挠性印刷电路板)检测的「新型NRFEIS系列」、面向HDI电路板制造MSAP技术的「自动剥离/分离装置」,以及高精度检测装置「R-730」。此外,还将介绍新上市的各种产品。
面向触摸屏和挠性电路板检测解决方案的相关事宜,敬请莅临我司展位参观咨询。

主要展出产品

・面向FPC检测装置 新型NRFEIS系列
・面向HDI电路板制造MSAP技术的自动化学剥离/分离装置
・高速度/高精度检测装置及其他

展会概况

时间 2016年4月6日(星期三)~8日(星期五)
地点 东京国际会展中心 东大厅
展位 E48-30
官网 http://www.tpjapan.jp/en/Home/

CPCA Show 2016参展通知

我司将于2016年3月15日(星期二)~ 17日(星期四)参加在中国・上海举办的CPCA Show 2016。
本届展会,我们主要展出高速度高精度HDI基板检测装置及高精度治具。同时,还将介绍柔性电路板检测装置及最新上市的自动剥离/分离装置。敬请各位莅临我司展位。
我们努力做到根据客户的需求,提供最合理的检测解决方案。敬请各位莅临我司展位。

主要展出产品

・印刷电路板检测装置 SREC M6系列
・柔性电路板检测装置 NRFEIS系列
・面向HDI电路板制造MSAP技术的自动剥离/分离装置
・高精度治具及其他

展会概况

时间 2016年3月15日(星期二)~17日(星期四)
地点 中国上海新国际博览中心
展位 6D68
官网 http://www.cpcashow.com/index.asp

第8界国际汽车电子技术展 参展通知

我司将于2016年1月13日(星期三)至15日(星期五)参加在东京・江东区举行的「第8届国际汽车电子技术展」。本届展会,我司主要展出DEWETRON公司制的「TRENDCODER」、「CVT记录器」和「TRL非接触线束测试器」,并向大家介绍面向汽车领域的检测方案。此外,还将推出最新研发的「虹膜识别模块」及其他相关产品。
展会中,我们将进行实机展示。
若有检测和测量方面的困惑或意向,请务必莅临我司展位,欢迎垂询。

主要展出产品

・DEWETRON公司制的各种测量仪器「DEWE2A4」、「TRENDCODER」、「 CVT记录器」
・线束测试「TRL非接触线束测试器」
・车载品检测「虹膜识别模块」
・同时展出集团公司及合作企业提供的众多产品

展会概况

时间 2016年1月13日(星期三)~15日(星期五)
地点 东京国际展览中心 西厅
展位 W1-35
官网 http://www.automotiveworld.jp/zh-cn/

Semicon Japan 2015 参展通知

我司将于2015年12月16日(星期三)至18日(星期五),参加在东京・江东区举办的Semicon Japan 2015。
本次展会中,我司主要展出对应60μm的全世界直径最小的「MEMS弹簧探针/制造装置」、「半导体晶片bump光学检测装置」,同时为您介绍最先进的检测解决方案。此外,本次展会的另外一大主题是向大家介绍对应「IoT」的新产品。根据客户的需求,提供最合理的检测解决方案是我们的使命。欢迎各位莅临我司展位。

主要展出产品

・光学式检测装置 「RWi-300系列」
・面向探针卡的「MEMS弹簧探针/制造装置」及其他
・对应IoT化的解决方案「IDEAS」及其他

展会概况

时间 2015年12月16日(星期三)~18日(星期五)
地点 东京国际展览中心
展位 1708
官网 http://www.semiconjapan.org/en/exhibits

TPCA Show 2015 展会通知

我司将于2015年10月21日(周三)~23日(周五)参加在台湾・台北市举办的「TPCA Show 2015」。本届展会中,我司将主要展出柔性电路板检测装置「NRFEIS-5060」、新型小间距FC-CSP检测装置及光学系电路板检测装置等,并根据客户需求提供各种检测解决方案。同时,还将展出高精度测试仪「R-5810is」及物联网 (IoT)相关产品。敬请莅临 我司展位。

主要展出产品

・柔性电路板检测装置「NRFEIS-5060」
・小间距FC-CSP检测装置「GATS-7755」
・印刷电路板检测装置「S-REC M6ⅡSW」
・光学系电路板检测装置「RSH-S120/RWi-300」
・高精度测试仪「R-5810is」
・高精度治具「Φ15um BB探针治具」
・IoT (Internet of Things) 对应检测解决方案「IDEAS」及其他

展会概况

时间 2015年10月21日(周三)~23日(周五)
地点 台北南港展览馆
展位 J329
官网 http://www.tpcashow.com/en/

JPCA Show 2015 展会通知

我公司将于2015年6月3日(周三)~5日(周五),参加在东京国际会展中心举办的「JPCA Show 2015」。届时,我们主要展出半导体封装检测装置「GATS-6310」及柔性电路板通电检测装置「NRFEIS-3045A」,同时推出光学检测技术及车载检测装置等,可为您提供多领域、广范围的检测方案。此外,还将展出性能更高的新一代测试仪、高精度的检测治具。敬请拨冗莅临。

主要展出产品

・半导体封装检测装置「GATS-6310」
・印刷电路板检测装置「S-REC M6ⅡWide/SW」
・高速/高精度测试仪「R-6510is」
・光学式外观检测装置「RSH-S230T」、「RWi-300」
・高精度检测用治具、同轴MEMS、15um探针治具、通用治具
・柔性电路板检测装置 「NRFEIS-3045A」
・车载数据记录器 「Trend Coder」及其他相关产品

展会概况

时间 2015年6月3日(周三)~5日(周五)
地点 东京国际会展中心
展位 5C-04
官网 http://www.jpcashow.com/show2015/ch/

人与车科技展2015 展会通知

我公司将于2015年5月20日(周三)~22日(周五),参加由日本汽车技术会在太平洋横滨展馆举办的「人与车技术展2015」。本年度首次参展,主要展出DEWETRON研制的「车载数据记录仪」。届时我们将为您演示和介绍应用广泛的多合一系列产品,以及新一代多点触控型触摸屏产品。敬请拨冗莅临。

主要展出产品

・DEWETRON制数据记录仪
「DEWE2-A4」、「Trend Coder」、「DEWE2-M4」

展会概况

时间 2015年5月20日(周三)~22日(周五)
地点 太平洋横滨
展位 No. 34
官网 http://expo.jsae.or.jp/english/

FINE TECH JAPAN (International Touch Panel Technology Expo) 展会通知

我公司将于2015年4月8日(周三)~10日(周五)参加在东京Big Sight举行的[第25届FINETECH JAPAN 暨国际触控技术展]。此次展会中我们将介绍触摸屏检测装置「NRFEIS系列」,并向大家提供已被广泛采用的触摸屏检测方案。同时展会中有实机展示,敬请莅临。

主要展出产品

・柔性电路板检测装置 NRFEIS-3045A (Demonstration)
・触摸屏检测装置 NRTES系列

展会概况

时间 2015年4月8日(周三)~10日(周五)
地点 东京国际会展中心
展位 东展厅、49-39
官网 http://www.ftj.jp/zh-cn/Home/

CPCA Show 2015 展会通知

我公司将于2015年3月17日(周二)~19日(周四)参加CPCA Show 2015。 此次展会,我公司将推荐对应小螺距&超薄FC-CSP电路板的最新电路板检测装置以及产品线丰富的检测治具。
同时展会中有实机展示,敬请莅临。

主要展出产品

・半导体封装检测装置 GATS-6310 (Demonstration)
・触摸屏检测装置 NRTES系列
・检测用治具 (通用治具、同轴治具、15 um探针治具)

展会概况

时间 2015年3月17日(周二)~19日(周四)
地点 上海世博展览馆
展位 7F78
官网 http://www.cpcashow.com/index.asp

第7届 国际汽车电子技术展参展通知

我公司将参加于2015年1月14日(周三)~16日(周五)举行的第7届国际汽车电子展。
此次展会中,我公司将主要推出「TRL非接触束线测试仪」、「DEWETRON公司制作的数据记录器」,并向大家介绍面向汽车领域的检测方案。此外,还将展出通过技术合作共同开发的内埋式摄像模块及其他产品。展会中我们有实机展示,敬请莅临。

主要展出产品

・TRL非接触束线测试仪
・All-in-One便携式数据记录器

展会概况

时间 2015年1月14日(周三)~16日(周五)
地点 东京国际会展中心
展位 西 4-44
官网 http://www.car-ele.jp/en/Home/