光学式检测装置

晶片Bump检测装置

RWi/TWi系列是对在半导体晶片上形成的各种各样的Bump进行2D/3D检测的光学检测装置。

RWi Series

RWi系列

RWi系列是以对在半导体晶片上形成的各种各样的Bump进行2D/3D检测的光学检测装置。

TWi Series

TWi系列

TWi系列是以对在半导体晶片上形成的金Bump进行2D/3D检测为特色的光学检测装置。