我司将于2017年6月7日(三)至9日(五)参加在东京·江东区举办的JPCA Show 2017。
本届展会,我司将进行可对应智能手机,平板电脑以及MSAP工法检测的电气检测设备STAR REC M6Ⅱ的实机展示,高速度·高精度的FPC(柔性电路板)检测设备NRFEIS-3045X的实机展示。此外还准备了高速微细电容测试仪R-730等一系列丰富的产品阵容。我们将以电气、光学检测为中心,向大家提供检测·计量方面的一系列解决方案。
敬请各位莅临我司展位。

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