半导体封装检测装置

对MCM、CSP、BGA等半导体封装进行导通和短路绝缘(OPEN/LEAK)测试的检测装置“GATS: Grid Array Testing System”系列。

GATS-2128

GATS-2128

GATS-2128主要用于FC-BGA或者MCM等排线密度高的单片型封装电路板的通电和绝缘检测。

GATS-6310

GATS-6310

GATS-6310是一款最适合于对微细间距且体积超薄的FC-CSP电路板进行高速度高精度检测的新一代检测装置。

GATS-7711

GATS-7711

GATS-7711是适用于对FC-CSP之类多面半导体封装电路板上的线路进行通电、绝缘检测的标准机型。

GATS-7750

GATS-7750

GATS-7750是对间距更加细微化的FC-CSP电路板进行通电、绝缘检测的高速度高精度检测机型。

GATS-7850

GATS-7850

GATS-7850是为250mm角面板尺寸的FC-BGA电路板的通电、绝缘检测而开发的新一代检测装置。