MEMS 스프링 프로브

LSI 검사용 스프링 프로브

마이크로 프로세서나 어플리케이션 프로세서 등의 반도체 웨이퍼 검사에 최적인 MEMS 스프링 프로브입니다.

·검사 피치 90μm에 대응 가능

·독자적인 구조로 저저항

lis_spring_probe